دوره 6 (1402-1403)
دوره 5 (1401-1402)
دوره 4 (1400-1401)
دوره 3 (1399-1400)
دوره 2 (1396)
دوره 1 (1395)
نویسنده = محمدرضا رشیدیان وزیری
تعداد مقالات: 5
طراحی و ساخت سیستم انحراف سنجی و ارزیابی عملکرد آن در اندازهگیری پاشندگی ضریب شکست خطی بلورهای نازک سوسوزن یاگ و کوارتز
دوره 6، شماره 2 ، دی 1402، ، صفحه 19-28
چکیده
یکی از مسائل بنیادین در علم فیزیک، اندازهگیری ضریب شکست مواد مختلف است. اطلاع از بزرگی ضریب شکست یک ماده در پیش‌بینی نحوه رفتار و میزان نور عبوری از آن نقش تعیین کننده‌ای دارد. روشهای مختلفی برای اندازهگیری ضریب شکست وجود دارد. در این کار برای سنجش ضریب شکست نمونه‌های با ضخامت کم، یک سیستم مبتنی بر روش انحراف سنجی طراحی و ساخته ... بیشتربررسی اثر محو شدگی پاسخ کالریمتر تداخل‌سنجی تمام‌نگاری به روش حل عددی
دوره 3، شماره 2 ، شهریور 1400، ، صفحه 75-80
چکیده
اصول کار کالریمترهای مورد استفاده برای دزیمتری تابشهای یونساز، اندازهگیری تغییرات دمایی ایجاد شده در ماده جاذب به سبب انرژی گرمایی سپارش انرژی باریکه یونساز در ماده جاذب است. در سال‌های اخیر، یکی از این روشهای دزیمتری، روش کالریمتری نوری تمام نگاری با استفاده از باریکه‌های لیزر بوده است. یکی از مسائلی که دقت عملکرد کالریمترهای ... بیشتراندازهگیری تغییرات دمایی پلی‌متیل متاآکریلات با استفاده از روش تداخل‌سنجی تمام‌نگاری دیجیتال
دوره 2، شماره 3 ، اسفند 1396، ، صفحه 9-14
چکیده
تداخل‌سنجی تمام‌نگاری یکی از روشهای دقیق مورد استفاده برای اندازهگیری کمیتهای فیزیکی نظیر تنش، فشار، ارتعاش، و تغییرات ضریب شکست و دما به خصوص در مواد جامد شفاف است. در این مطالعه، از یک چیدمان تجربی تداخل‌سنجی تمام‌نگاری دیجیتال ماخ-زندر برای اندازهگیری میزان تغییرات دمایی ایجاد شده در یک سلول پلی متیل متاآکریلات تحت تابش ... بیشترساخت رابط کاربری گرافیکی در محیط متلب برای پردازش تصاویر دریافتی از تداخل سنج نوری
دوره 2، شماره 3 ، اسفند 1396، ، صفحه 15-22
چکیده
در این کار به توصیف نحوه به روزرسانی و اتوماسیون یک سیستم تداخل سنج با استفاده از روش های پردازش تصویر و از طریق ساخت یک رابط کاربری گرافیکی در محیط متلب پرداخته شده است. پس از به روزرسانی و دریافت تصاویر دیجیتال از طرح نوارهای تداخلی از تداخل سنج و انتقال آن ها به رابط کاربری در محیط متلب، امکان اعمال تبدیل هندسی دوران تصاویر در رابط ... بیشترشبیهسازی مونت کارلوی فرایند لایه نشانی با لیزر پالسی و بررسی تغییر فاصله هدف تا زیرلایه بر مشخصات لایه‌ها
دوره 1، شماره 3 ، اسفند 1395، ، صفحه 9-16